國儀量子SEM掃描電鏡現(xiàn)場測試

掃描電鏡是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器 。具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學信息等優(yōu)點。

目前, 掃描電鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究。

國儀量子的鎢燈絲掃描電鏡（SEM3200）是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。

↑果果儀器 SEM冷熱臺↑

果果儀器_SEM冷熱臺 是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現(xiàn)對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩(wěn)定后溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現(xiàn)樣品變溫測試的溫度范圍：-185~200℃ ，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。

SEM原位冷熱臺適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結(jié)構(gòu)研究，固定在現(xiàn)有樣品臺上。

果果儀器為國儀量子定制SEM冷熱臺，與國儀量子鎢燈絲掃描電鏡（SEM3200）配套工作，進行現(xiàn)場測試。

國儀量子SEM掃描電鏡-180℃～100℃測試現(xiàn)場

溫度控制穩(wěn)定，精度±0.1℃，加熱過程中無電磁干擾